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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
高精度大樣品臺掃描探針顯微鏡L-trace
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-10-20 13:44
品 牌：SII型 號：L-trace
狀 態：正常點擊量：1445
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
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上海非利加實業有限公司
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上海自提或三方快遞
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特點
1.滯后、蠕變影響小的閉環掃描器搭載。測定部分的移動或是掃描方向的旋轉之后，也可以得到正確的畫像。
2.新功能SIS模式配合鈉米碳管探針，能夠正確的測定以往不易測定的急、陡斷面的樣品。
3.標準裝配6英寸大型樣品臺，可對150mmφ的樣品全面的觀察。（200mmφ樣品臺為可選）
4.搭載探針自動更換功能，測定導向功能。
5.登錄模式可實現自動測定，可設定***大20個測定點及各自測定條件下的自動測定。***適合重復的測定。
產品參數
| 檢測系統光杠桿式掃描系統搭載閉環掃描器分辨率·面內：0.5nm·垂直：0.05nm樣品尺寸150mmφ（200mmφ可選）樣品移動機構高精度電動XY樣品臺掃描范圍SIS（Sampling Intelligent Scan）模式適用其它·探針狀態評價功能·探針自動切換功能
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產品介紹
產品介紹:
滯后、蠕變影響小的閉環掃描器搭載。配合新功能SIS掃描模式及鈉米碳管探針，即使是高段差的樣品也可以準確的測定。標準配置的6英寸的大型樣品臺（8英寸樣品臺可選）。
滬公網安備31011502016460號
