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商品編號：66034

德國超聲波掃描顯微鏡KSI V400E

價格：詢價

產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-18 11:53

品牌：型號： V-400E

狀態(tài)：正常點擊量：2759

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安賽斯（中***）有限公司---檢測設(shè)備優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

產(chǎn)品標簽：超聲波掃描顯微鏡，超聲掃描顯微鏡，聲掃顯微鏡，超聲C掃描系統(tǒng)

超聲波掃描顯微鏡是利用超聲波對微觀物體進行成像的無損檢測設(shè)備。可對各種材料、元器件內(nèi)部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)、裂紋進行非破壞性檢測；還可進行涂鍍層結(jié)合質(zhì)量，內(nèi)部焊接質(zhì)量，鍵合層缺陷等檢測、空洞率計算等。

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域：

半導(dǎo)體電子行業(yè)：半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；

生物醫(yī)學(xué)：活體細胞動態(tài)研究、骨骼、血管的研究等

超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用：

晶圓面處分層缺陷
錫球、晶圓、或填膠中的開裂
晶圓的傾斜
各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢：

非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)
可分層掃描、多層掃描
實施、直觀的圖像及分析
缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計
可顯示材料內(nèi)部的三維圖像
對人體是沒有傷害的
可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）

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V-400E、V-700E、V-1000E單探頭超聲波掃描顯微鏡

-該型號超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)是實驗室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機型。
- 掃描速度可達：2000mm/s
- 與其它品牌機型相比掃描效率高30%
- *小掃描范圍：200μm×200μm
- 射頻帶寬：500MHz
- 新型FCT防誤判探頭

V-duo、V-quatrro、V-Octo多探頭超聲波掃顯微鏡

多探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時使用2只、4只或8只換能器
- 掃描速度：2000 mm/s
- 與其它品牌相比掃描效率高30%
- *小掃描范圍：200μm×200μm
- 帶寬：550MHz
- 新型換能器

Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描系統(tǒng)

它是聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合。

- 換能器頻率范圍：100MHz――2000MHz頻率實現(xiàn)高分辨率
- 探測深度<100nm
- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機械性能上具有關(guān)聯(lián)性。
- 光聲效應(yīng)增強了對比性
- 放大倍數(shù)：1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡可調(diào)節(jié)