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掃描電子顯微鏡（SEM）
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:00
品 牌：型 號：JXA-8230
狀 態：正常點擊量：2780
400-006-7520
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日本JEOL 電子探針顯微分析儀 JXA-8230
可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。
產品規格：
| 檢測元素范圍 | WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～U |
| X射線檢測范圍 | WDS檢測的波長范圍: 0.087～9.3nm,
EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV |
| 分光譜儀數量 | WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺 |
| 樣品尺寸 | 100mm × 100mm × 50mm（H） |
| 加速電壓 | 0～30kV（以0.1 kV為步長） |
| 束流電流范圍 | 10-12 ～ 10-5 A |
| 束流電流穩定度 | 5%/h, ±0.3%/12h（W） |
| 二次電子分辨率 | 6nm（W）, 5nm（LaB6）*2
（W.D. 11mm, 30kV） |
| 掃描倍率 | ×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm） |
| 掃描圖像分辨率 | 5,120× 3,840 |
| 彩色顯示器 | EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024
SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024 |
| 光學顯微鏡 | |
| 分辨率 | ～1um |
| 焦深 | 1um |
| 真空系統 | 機械泵、分子泵、離子泵 *2 |
| 真空度 | 樣品室: 優于8.0 x 10-4Pa,
電子槍: 優于9.0 x 10-5Pa |
產品特點：
· 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。
· 日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是下***代能完全滿足多種需求的強力分析工具。
·
· EPMA快速啟動
· 點擊任何***點，就能開始預設的EDS定性、定量分析或WDS分析。
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· 用戶菜單（User recipes）
· 能保存或調用經常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學參數、EDS和WDS參數在內。
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·
· EDS 的性能
· 數字化脈沖處理器
· 全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)
· 無風扇SDD (選配)
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滬公網安備31011502016460號
