CBTZ-3100Z型自動對位探針臺能
對晶片實現自動對位測試，操作簡單，
快捷，測試精度高，具有MAP顯示功
能。它與測試儀連接后，能自動完成
對各種晶體管芯的電參數測試及功能
測試 。 |
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操作方式 CBTZ-3100Z型自動對位探針臺
提供了清晰直觀的觸屏操作頁面，
手觸點擊即可完成對晶片的自動對
位測試。
機器軟件的操作界面 | 除此之外還提供了更加簡潔 方 便的小鍵盤操作方式，操作者可依據 個人偏好和習慣選擇任意種操作 。
功能小鍵盤 |
機器功能 具有自動掃描對位功能，對位精度
高、速速快，Windows7界面，動態map
圖顯示測試過程。
| 具有圓形測試，范圍重測，探邊
測試，范圍打點，回收測試，矩形
測試和脫機打點多種測試功能。
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具有X、Y、Z三軸運動結構，操作軟
件能對垂直度、平面度進行精度補償，保
證機器的控制精度和工作的穩定性。
| 具有實時打點、脫機打點和滯
后打點功能。新型打點器，使用時
間長達3天，不滴墨，省去60%的操作時間。
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具有Z軸行程分段運動功能，其
分為基本高度、接觸高度、接觸緩沖、
過沖高度和折回高度，并且具有探邊
功能，防止測試過程中探針對芯片的
劃傷和探針與芯片的接觸不良。
| 測試針痕比例圖片（反光白點為針痕）
多個芯粒 |
特點：隔振支撐采用高***復合材料隔振，隔振性能接近充氣平臺，維護調整工作量少，結構穩固。
應用范圍：環境振動較好,且要求垂向位移變化小的實驗。
滬公網安備31011502016460號
