原子力顯微鏡AFM探針
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-05-10 13:59
品 牌:其他型 號:
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400-006-7520
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產品參數(shù)
原子力顯微鏡AFM探針:
探針的工作模式:主要分為 掃描(接觸)模式和輕敲模式
探針的結構:懸臂梁+針尖
探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm。
制作工藝:半導體工藝制作
常見的探針類型:
(1)、導電探針(電學):金剛石鍍層針尖,性能比較穩(wěn)定
(2)、壓痕探針:金剛石探針針尖(分為套裝和非套裝的)
(3)、氮化硅探針:接觸式(分為普通的和銳化的)
(4)、磁性探針:應用于MFM,通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備
(5)、電化學探針(STM): 電學接觸式和電學輕敲式
(6)、FIB大長徑比探針:測半導體結構,專為測量深的溝槽(深孔)以及近似鉛垂的側面而設計生產的。